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拉曼電鏡聯(lián)用光譜系統(tǒng) RTS-SEMR
產(chǎn)品簡介
掃描電子顯微鏡（SEM）是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品，實現(xiàn)對物質(zhì)微觀形貌表征的目的。具有景深大、分辨率高，成像直觀、立體感強(qiáng)、放大倍數(shù)范圍寬以及待測樣品在三維空間內(nèi)進(jìn)行旋轉(zhuǎn)和傾斜等特點。拉曼技術(shù)在分子級別上提供樣品的化學(xué)結(jié)構(gòu)、組分信息；而 SEM 可在納米尺度上提供高空間分辨率的形貌圖像；SEM 與拉曼光譜技術(shù)相結(jié)合，使用 SEM 觀察樣品形貌，并可獲取指*樣品點的拉曼光譜信息，同步獲取樣品材料表面形貌、分子結(jié)構(gòu)與化學(xué)組分等信息。
典型應(yīng)用
拉曼電鏡聯(lián)用光譜系統(tǒng) RTS-SEMR
北京卓立漢光儀器有限公司全新推出的 RTS- SEMR 拉曼電鏡光譜系統(tǒng)集成場發(fā)射掃描電鏡與拉曼光譜系統(tǒng)于一體，是一款真正意義上實現(xiàn)國產(chǎn)拉曼光譜與掃描電鏡聯(lián)用的設(shè)備。拉曼電鏡通過快速、精確、高性能的拉曼分析，彌補(bǔ)了能譜儀、波譜儀等傳統(tǒng)電鏡附件無法實現(xiàn)的分子結(jié)構(gòu)與成分觀察。尤其是針對有機(jī)結(jié)構(gòu)、碳結(jié)構(gòu)、同分異構(gòu)體、晶體與無機(jī)相等多領(lǐng)域材料的信息表征，擴(kuò)展了傳統(tǒng)掃描電子顯微鏡的分析應(yīng)用領(lǐng)域，例如礦物鑒別、高分子與制藥行業(yè)、鋰電行業(yè)、醫(yī)工交叉行業(yè)等，應(yīng)用前景廣闊。
北京卓立漢光儀器有限公司推出的掃描電鏡-拉曼光譜聯(lián)用裝置采用“離軸"模式設(shè)計理念。“離軸"模式掃描電鏡的電子束與拉曼光譜的激光束不同軸,通過移動樣品臺分別進(jìn)行掃描電鏡-能譜分析和顯微拉曼光譜分析，原位獲取樣品指*位置的形貌信息和化學(xué)成分信息。
系統(tǒng)架構(gòu)
RTS- SEMR 拉曼電鏡光譜系統(tǒng)，電鏡擁有大視野及納米級分辨率，是一個優(yōu)秀的樣品微觀形貌分析平臺，系統(tǒng)耦合拉曼共聚焦光路進(jìn)入真空樣品倉，實現(xiàn)了樣品在電子束和激光束之間的快速切換，在滿足樣品表征觀察的同時，也能夠?qū)崿F(xiàn)納米級分辨率的化學(xué)成分和空間結(jié)構(gòu)分析，充分發(fā)揮掃描電鏡與拉曼兩者的應(yīng)用優(yōu)勢。
拉曼集成掃描電子顯微鏡采用平行雙束方案，搭載高精度復(fù)合位移臺可實現(xiàn)樣品在拉曼光軸和電子束光軸之間快速、精確、穩(wěn)定的切換，拉曼掃描范圍高達(dá) 2.5 mm。
獨*的系統(tǒng)及產(chǎn)品設(shè)計保證了操作性、易用性、普適性，用戶可在電鏡中尋找感興趣的材料特征，得到高分辨的掃描結(jié)果后，一鍵切換至拉曼光路下進(jìn)行該區(qū)域的快速/高精度的光譜掃描，隨后得到高匹配程度的拉曼渲染聯(lián)用效果。
拉曼渲染結(jié)果的像素與光譜數(shù)據(jù)對應(yīng)關(guān)系可通過軟件程序直接提取，提供進(jìn)行便捷的結(jié)果解析。
拉曼光譜集成方案提供了多種配置供用戶選擇，例如激光波長、光譜儀焦長、光柵密度、物鏡等光學(xué)核心配置，充分滿足應(yīng)用及市場的需求。
掃描式電子顯微鏡系統(tǒng)配置多種類型探測器，可實現(xiàn)二次電子和背散射電子同時成像，兼容多種應(yīng)用模式，可覆蓋生命科學(xué)、材料科學(xué)、地質(zhì)科學(xué)等多學(xué)科科研應(yīng)用場景。
標(biāo)配五軸高精度運動平臺及自主設(shè)計樣品載臺，可實現(xiàn)多個釘臺同時放樣或單一大尺寸樣品觀測。
性能優(yōu)勢
典型參數(shù)
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